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Schnelles Angebot: NI PXIe-6570

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NI PXIe-6570

PXIe Digital Pattern Generator, 32 Channels, 100 MHz Vectors/sec

Modell

PXIe-6570

Hersteller

Konfigurierte Modelle enthalten die folgenden Merkmale:

Konfigurationen

Wichtigste Daten

Produktübersicht

Ressourcen

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Sie können sich auch an uns wenden, und unsere Experten können Sie mit der richtigen Anwendungs- und Beschaffungslösung für dieses Produkt beraten.

Produktübersicht

Semiconductor ATE-Class Digital on the Open PXI Platform PXI Digital Pattern Instruments deliver ATE-class digital to the industry-standard PXI platform for testing a broad range of RF and mixed-signal integrated circuits (ICs). The NI PXI platform and NI Semiconductor Test System (STS) are an ideal platform for characterization and production test of RF and mixed-signal ICs from RF front ends and power management ICs to transceivers and Internet of Things systems on chip with built-in connectivity and sensors.

Key Features:

Includes Digital Pattern Editor for pattern development and debugging, API support for LabVIEW and text-based languages, shipping examples, and detailed help files .

32-channel, 100 MHz vector rate with 39.0625 ps of edge placement resolution
Digital voltage -2 V to 6 V, and PPMU force voltage -2 V to 7 V
Up to 200 Mb/s data rate and 160 MHz clock generation
Combine multiple modules to create digital subsystems with up to 512 channels
Dedicated source, capture, and history memory resources for up to eight parallel test sites

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