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影片主題：掌握 DDR5 訊號完整性與相容性測試關鍵技術
觀看本影片，了解如何運用最新工具與方法，提升 DDR5 測試與驗證效率
Overview
隨著 DDR5 以多千兆位元速率運作，訊號完整性分析的複雜度大幅提升，也帶來了新的測試與相容性驗證挑戰。工程師必須精確量測 DQ 與 DQS 訊號間極小的時間裕度，偵測串擾與反射現象，並進行遮罩測試以確保符合 JEDEC 標準。
本次研討會聚焦於訊號完整性分析與相容性測試，將示範如何運用區域觸發（Zone Triggering）、協定解碼及自動化相容性測試工具，協助工程師驗證電路佈局效能、除錯時序問題，以及評估系統穩定性——這些都是成功開發 DDR5 與次世代記憶體設計的關鍵要素。
您將在影片中學到：
- DDR5 與 LPDDR5 SDRAM 的主要整合挑戰
- 用於除錯與確保 DDR 記憶體介面訊號完整性的進階工具與技術
- 透過區域觸發等實用方法，輕鬆分離 READ/WRITE 操作序列
- 優化 DDR5/LPDDR5 介面以達到最高效能與可靠度
- 使用自動化相容性測試，確保符合 JEDEC 標準
講者介紹：
Guido Schulze
產品管理部
Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG
Johannes Ganzert
資深應用工程師
Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG
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